화웨이 기술 참여 연구원 사망, 싱가폴 당국 심리 시작

편집부 | 2013-05-15

[SOH] 스파이 활동 기술 제공을 의심받고 있는 중국 화웨이기술 (Huawei)에서 첨단 정보연구에 참여했던 연구원의 사망사건과 관련해 싱가폴 당국이 14일 이 연구원의 사망원인에 대한 심리를 시작했습니다.

지난해 6월, 화웨이 기술 연구원이었던 미국인 셰인 토드씨가 아파트에서 목이 매달린 채 발견됐고, 당시 경찰은 자살로 추정했습니다.

그러나, 토드씨의 부모는 그의 죽음에서 의심스러운 점이 많기 때문에, 국제적으로 스파이 활동 참여가 의심되는 중국 기업의 기밀 프로젝트와 관련돼 살해당했다고 주장했습니다.

가족들의 호소에 따르면, 현장을 확인한 토드씨의 애인은 “경찰이 발표한 조서와 현장 상황이 엇갈리고 있다”고 말했습니다. 또 당시 토드씨는 쓰던 가구를 판매하는 등 짐을 정리해 미국으로 귀국할 준비를 하고 있었다면서, 그의 가족들은 귀국 직전에 그가 자살할 리 없다고 증언했습니다.

그의 부모의 강력한 요청으로 싱가폴 경찰은 미국연방수사국(FBI)에 토드씨의 사망 원인에 대한 조사협력을 요청했고, 미국에서 온 부검의는 타살 가능성을 지적했습니다.

토드씨는 2010년 11월, 싱가폴 과학기술 연구청에 도착한 후 곧바로 이 연구청과 중국 IT 대기업 화웨이의 공동 연구 프로젝트에 참여했습니다. 그는 레이더와 위성통신에 사용되는 견고한 반도체 재료에 대한 연구에 참여했으며, 지난해 5월 은퇴했습니다.

사망원인 규명에 초점을 맞춘 이번 심리는 이달 28일까지 계속 되며, 결과는 6월 하순경에 나올 예정입니다.

한편, 미국 하원 첩보위원회는 지난해 10월, 화웨이 및 중국 ZTE 제품이 미국의 안전보장을 위협할 가능성이 있다는 조사보고서를 발표하고, 각 이동통신 사업자에게 이 두 회사와의 거래를 중단하도록 권고한 바 있습니다.